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拨码开关元件的筛选要求

 拨码开关工厂介绍,元器件可靠性问题也就是基本失效率问题,这是一种随机性质的失效。不同于质量问题的是元器件的失效率取决于工作应力水平。KE拨码开关在一定的应力水平下,元器件的失效率会大大下降。为排除不符合使用要求的元器件,包括电参数不合格、密封性能不合格、外观不合格、稳定性差、早期失效等,应进行筛选试验,这是一种非破坏性试验。通过筛选可使元器件失效率降低1-2个数量级,当然筛选试验代价(时间与费用)很大,但综合维修、后勤保障、整架联试等还是合算的,研制周期也不会延长。电源设备主要元器件的筛选试验一般要求:

1.电阻在室温下按技术条件进行100%测试,排除不合格品。

2.普通电容器在室温下按技术条件进行100%测试,排除不合格品。

3.接插件按技术条件抽样检测各种参数。

4.半导体器件按以下程序进行筛选:目检初测高温贮存高低温冲击电功率老化高温测试低温测试常温测试

筛选结束后应计算剔除率Q
Q=(n/N)×100%
式中:N受试样品总数;n排除的样品数;

如果Q超过标准规定的上限值,则本批元器件全部不准上机,并按有关规定处理。在符合标准规定时,KE则将筛选合格的元器件打漆点标注,然后入专用库房供装机使用。

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